| 美国ISDC标准黑体源\红外热成像测量系统 |
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| 美国 ISDC 公司 （ Infrared Systems Development Corporation ） 是一个设计和生产高质量红外 |
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| 测量系统和仪器的专业厂家。从上世纪 50 年代开始，该公司的产品就在生物科学、航空航天研究等领域得到 | ||||
| 广泛的应用。高性能行业标准黑体源，由于采用分辩率达 0.1 0 C 的 PID 控制器和长寿命同轴空腔腔体加 | ||||
| 热器，其性能得到进一步的提高；新开发的飞秒激光脉冲光谱系统可用于医药研究开发，通过检测蛋白质和氨 | ||||
| 基酸结构，分析复杂的生物样品；标准的和订制的红外测试系统可检测和校正调整红外相机、辐射计和探测器 | ||||
| 。该公司还可以根据用户的特殊要求和预算，提供各种解决方案，设计开发相应的光电系统和相关软件。 | ||||
 黑体源 |
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| - 先进的数字式 PID 控制器， 0.1°C 分辨率 |  |
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| - 0.25"-2.25"直径腔式黑体，50 °C-1200°C | ||||
| - 2"×2"-36"×36"面式黑体，-20°C-500°C | ||||
| - 长寿命工业标准黑体源 | ||||
| MARK III 辐射计 |
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| - 4.25"卡塞格林光学系统 |  |
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| - CVF渐变滤光连续光谱扫描或滤光片分立谱段测量 | ||||
| - 光谱测量范围: 0.4～20um;分辨率:0.02um - | ||||
| - 视场FOV:1mrad-1 °(3 °-20 °可选) | ||||
| 红外热像仪及FPA器件测量系统
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| - 可测量红外热像仪,焦平面器件以及单元红外探测器 | ||||
| - 可测量参数包括:MTF,METD, NETD, SiTF,S/N, RvBB |  |
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D*,Rv,Ri,NEP,NEI,噪声光谱，红外响应光谱，脉冲响应 |
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| 表面均匀性，量子效率 |
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| - 高质量、精密的光学和电子设备与特定的软件相结合具 | ||||
有灵活多样性，允许用户完成不同的实验，产品验收和 |
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测试任务。 |
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| IR-6414 多通道激光脉冲光谱系统 |
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| - 16-1024路探测器高速响应同步采集 | ||||
| - 通过调节延迟和积分时间同步于激光输出脉冲 |  |
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| - 1飞秒到2.5毫秒激光脉宽; 激光波长0.4-20um | ||||
| - 16比特分辨率,低噪声，高增益 | ||||
| - DC耦合，电流控制，具有 Track/Hold 和数字化功能 | ||||
| - LASPEC 控制，采集和显示软件 | ||||
欲了解详细情况，请直接与我们联系！ |
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