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 黑体源
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| - 先进的数字式 PID 控制器， 0.1°C 分辨率 |
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| - 0.25"-2.25"直径腔式黑体，50 °C-1200°C |
| - 2"×2"-36"×36"面式黑体，-20°C-500°C |
| - 长寿命工业标准黑体源 |
MARK III 辐射计 |
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| - 4.25"卡塞格林光学系统 |
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| - CVF渐变滤光连续光谱扫描或滤光片分立谱段测量 |
| - 光谱测量范围: 0.4～20um;分辨率:0.02um |
| -视场FOV:1mrad-1 °(3° -20 °可选) |
红外热像仪及FPA器件测量系统 |
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| - 可测量红外热像仪,焦平面器件以及单元红外探测器 |
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| - 可测量参数包括:MTF,METD, NETD, SiTF,S/N, RvBB,D*,Rv,Ri,NEP,NEI,噪声光谱，红外响应光谱，脉冲响应,表面均匀性，量子效率 |
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| - 高质量、精密的光学和电子设备与特定的软件相结合具有灵活多样性，允许用户完成不同的实验，产品验收和测试任务。 |
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IR-6414多通道激光脉冲光谱系统 |
| - 16-1024路探测器高速响应同步采集 |
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| - 通过调节延迟和积分时间同步于激光输出脉冲 |
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| - 1飞秒到2.5毫秒激光脉宽; 激光波长0.4-20um |
| - 16比特分辨率,低噪声，高增益 |
| - DC耦合，电流控制，具有 Track/Hold 和数字化功能 |
| - LASPEC 控制，采集和显示软件 |
