NanoScan扫描式高精度激光光束分析仪

      扫描式光束分析仪（NanoScan,BeamScan）用于脉冲（>2KHz）和连续激光光束的测量和分析，包括光束尺寸、位置、顶角、功率、平行度/发散度、近场/远场轮廓、M2、高斯分布、椭圆率、线性运动平移轨迹的多点测量,以及光纤准直等。还可进行多光束的测量和分析，实时和长时间监测光束变化。处理软件可通过电脑对测量结果实时地进行显示、分析和存储。

  BeamPro Filer激光光束分析仪

    BeamPro光束分析仪用于脉冲（<1kHz，可测单脉冲）和连续激光光束空间特征各种参数的测量和分析，包括光束宽度、斑心和峰值的位置、主轴和次轴、光束方位、椭圆率、偏心率、1D和2D高斯曲线、光束均匀度、光束离散度、测试点稳定性、M2（K系数）、等等。可通过处理软件在电脑中对测量结果实时地进行显示、分析和存储。

            ModeScan 扫描式M2测试仪

    将NanoScan探头和线性工作台结合，通过ISO11146方法Rayleigh方法，可以测量光束质量因子M2、光束传播因子K、束腰直径d0、束腰位置Z0、发散角θ、瑞利长度等光束参数。可测量连续激光或脉冲激光，测量光斑尺寸从4µm到25mm甚至更大，功率测量范围从nw到上千瓦。

波长范围:	190nm -950nm   （Si探头） 700 nm -1800nm （Ge探头） 200 nm -20µm （热电探头）
工作台尺寸:	812×102×78mm

   Near Field Profiler近场轮廓仪

    用于激光半导体、光纤等近场的小光源进行微米级、高精度的激光光束测量。还可与BeamScan配合延伸其对聚焦激光斑点尺寸的测量范围。

NanoScan近场轮廓仪：

Camera近场轮廓仪：

Goniometric Radiometer角度辐射计(红外)/ Far-Field Profilers 远场轮廓仪

    LD8900系列角度辐射计用于对LD,LED,VCSEL,光纤等光源的角辐射光的有关参数进行直接、实时和远场的测量，包括数值孔径、发散模式、光波导、光学元件如透镜、滤波器等的影响、单模多模光纤、发散角、角坐标、任一轴上用户指定锥角的功率等等的测量。处理软件可对结果通过电脑实时地进行显示、分析和存储。