BITPE

扫描式光束分析仪（NanoScan,BeamScan）用于脉冲（>2KHz）和连续激光光束的测量和分析，包括光束尺寸、位置、顶角、功率、平行度/发散度、近场/远场轮廓、M2、高斯分布、椭圆率、线性运动平移轨迹的多点测量,以及光纤准直等。还可进行多光束的测量和分析，实时和长时间监测光束变化。处理软件可通过电脑对测量结果实时地进行显示、分析和存储。 NanoScan

波长范围:	190nm -950nm （Si探头） 700 nm -1800nm （Ge探头） 200 nm -100µm（热电探头）
采样分辨率:	0.006 -18µm
光束尺寸及测量精度:	亚微米(300nm)
光束尺寸及测量误差:	< 0.5%
接收孔径:	3.5-25mm
功率范围:	100nW-100W
12bitA/D转换	PCI接口

BeamScan扫描式激光光束分析仪

波长范围:	350nm -950nm （Si探头） 700nm -1800nm （Ge探头） 250nm-20μm （热电探头） 190nm -900nm（紫外增强Si探头）
光束直径:	4μm -20mm
功率范围:	μW -100W
PCI接口

BeamPro Filer激光光束分析仪

BeamPro光束分析仪用于脉冲（<1kHz，可测单脉冲）和连续激光光束空间特征各种参数的测量和分析，包括光束宽度、斑心和峰值的位置、主轴和次轴、光束方位、椭圆率、偏心率、1D和2D高斯曲线、光束均匀度、光束离散度、测试点稳定性、M2（K系数）、等等。可通过处理软件在电脑中对测量结果实时地进行显示、分析和存储。

型号	USBeampro	FireWireBeampro
传感器:	CMOS	CCD
尺寸:	2/3”	1/2”,2/3”
A/D转换:	10bit	12bit
PC机接口:	USB2.0	IEEE1394
光束直径:	65μm-6mm
波长范围:	190-1100nm
测量大功率/能量光束可配合可调衰减器

ModeScan 扫描式M2测试仪

将NanoScan探头和线性工作台结合，通过ISO11146方法Rayleigh方法，可以测量光束质量因子M2、光束传播因子K、束腰直径d0、束腰位置Z0、发散角θ、瑞利长度等光束参数。可测量连续激光或脉冲激光，测量光斑尺寸从4µm到25mm甚至更大，功率测量范围从nw到上千瓦。

波长范围:	190nm -950nm （Si探头） 700 nm -1800nm （Ge探头） 200 nm -20µm （热电探头）
工作台尺寸:	812×102×78mm

Near Field Profiler近场轮廓仪

用于激光半导体、光纤等近场的小光源进行微米级、高精度的激光光束测量。还可与BeamScan配合延伸其对聚焦激光斑点尺寸的测量范围。

	NFP-2323	NFP-2512	NFP-2523
传感器:	CMOS	CCD	CCD
波长范围:	380-1100nm	380-1100nm	380-1100nm
有效像素:	1280×1024	780×580	1392×1040
单像素尺寸:	6.7μm	8.3μm	6.45μm
阵列尺寸:	8.6×6.9mm	6.49×4.83mm	8.98×6.7mm
放大倍数:	60:1

Goniometric Radiometer角度辐射计(红外)/ Far-Field Profilers 远场轮廓仪

LD8900系列角度辐射计用于对LD,LED,VCSEL,光纤等光源的角辐射光的有关参数进行直接、实时和远场的测量，包括数值孔径、发散模式、光波导、光学元件如透镜、滤波器等的影响、单模多模光纤、发散角、角坐标、任一轴上用户指定锥角的功率等等的测量。处理软件可对结果通过电脑实时地进行显示、分析和存储。

扫描范围:	±72° ±90° ±120°
动态范围:	24dB 36dB 93dB
扫描半径:	0.84cm 13.26cm 13.26cm
空间角分辨率:	0.055°
波长范围:	320-1100nm(Si) 800-1700nm(InGaAs)

PHOTON激光光束测量仪器

NanoScan扫描式高精度激光光束分析仪

BeamScan扫描式激光光束分析仪

BeamPro Filer激光光束分析仪

ModeScan 扫描式M2测试仪

Near Field Profiler近场轮廓仪

Goniometric Radiometer角度辐射计(红外)/ Far-Field Profilers 远场轮廓仪